Рентгенофлуоресцентный толщиномер MAXXI 6 от компании OXFORD Instruments
15.02.2015
Компания OXFORD Instruments представляет новый рентгенофлуоресцентный толщиномер MAXXI 6 – стационарный анализатор химического состава сплавов и толщины многослойных покрытий. Данная модель пришла на смену получившему заслуженное признание специалистов толщиномеру X-STRATA 980.
Анализ химического состава и толщины, основанный на рентгенофлуоресцентном методе, является точным и надежным аналитическим методом, который обеспечивает простой, быстрый неразрушающий анализ, не требующий подготовки контрольного образца, возможность анализа твердых веществ или жидкостей с различным химическим составом, в диапазоне элементов от Al до U.
Рентгенофлуоресцентный толщиномер MAXXI 6 - уникальный анализатор с большой измерительной камерой щелевой конструкции, который позволяет решать задачи от измерения толщины однослойных покрытий до измерения тончайших структур и химического состава c низким пределом обнаружения.
Благодаря повышенной разрешающей способности и высокоэффективному дрейфовому кремниевому детектору (SDD), MAXXI 6 является идеальным инструментом для измерения самых тонких покрытий и химического состава c низким пределом обнаружения.
Анализ химического состава и толщины, основанный на рентгенофлуоресцентном методе, является точным и надежным аналитическим методом, который обеспечивает простой, быстрый неразрушающий анализ, не требующий подготовки контрольного образца, возможность анализа твердых веществ или жидкостей с различным химическим составом, в диапазоне элементов от Al до U.
Рентгенофлуоресцентный толщиномер MAXXI 6 - уникальный анализатор с большой измерительной камерой щелевой конструкции, который позволяет решать задачи от измерения толщины однослойных покрытий до измерения тончайших структур и химического состава c низким пределом обнаружения.
Благодаря повышенной разрешающей способности и высокоэффективному дрейфовому кремниевому детектору (SDD), MAXXI 6 является идеальным инструментом для измерения самых тонких покрытий и химического состава c низким пределом обнаружения.
