меню
Бесплатные звонки по россии 8 800 250-72-35
OBLF VeOS - оптико-эмиссионный спектрометр
(0)
Бурмистров Никита Андреевич
Бурмистров Никита Андреевич
Ведущий специалист по направлению готов ответить на ваши вопросы по товару OBLF VeOS
  • Производитель: OBLF GmbH (Германия)
  • Гарантия: 36 мес.
Прибор внесён в Госреестр СИ РФ Свидетельство
Официальный дилер  Сертификат

Описание OBLF VeOS

OBLF VeOS применяется на любых предприятиях для контроля химического состава металлов и сплавов.
Используется для научных исследований (например, для изучения межэлементных влияний в сплавах и т. п.), разработки новых сплавов.

Возможности оптико-эмиссионного спектрометра VeOS

  • Одновременное определение всех элементов в пробе
  • Анализ различных матриц (Fe, Al, Ni, Ti, Cu, Zn, Co, Mg, Pb, Sn)
  • Возможность комбинирования разных матриц на одном приборе
  • Анализ N, C, S, P (азот, углерод, сера, фосфор) в металлах
  • Автоматическое профилирование и коррекция дрейфа

Преимущества оптико-эмиссионного спектрометра VeOS

  • Решает широкий круг практических задач промышленных лабораторий металлургических предприятий, включая производителей чистых металлов.
  • Стационарный эмиссионный спектрометр, основанный на полупроводниковой сенсорной системе. Бескомпромиссная конструкция, сочетающая высокие аналитические показатели с невероятной гибкостью CCD/CMOS детекторов.
  • Обеспечивает точный анализ коротковолновых элементов, напр. сера, фосфор, азот, низкие концентрации углерода в стали, фосфор в алюминии и т.д.

Достоинства оптико-эмиссионного спектрометра VeOS

  • Всеобъемлющая мультиматричная система без ограничений в выборе элементов для анализа
  • Выбор любой спектральной линии пользователем в диапазоне от 130 до 780 нм.
  • Одновременное определение всех элементов в пробе
  • Анализ различных основ (Fe, Al, Ni, Ti, Cu, Zn, Co, Mg, Pb, Sn)
  • Возможность комбинирования разных основ на одном приборе
  • Анализ N, C, S, P в металлах
  • Удовлетворяет всем аналитическим задачам
  • Легко добавляемые аналитические линии
  • Новейшая, специально разработанная технология детекторов
  • Точное определение низких пределов содержания N и C (технология ULC)
  • Превосходные эксплуатационные качества благодаря пределу обнаружения, точности и стабильности
  • Автоматическое профилирование и коррекция дрейфа
  • Надёжная конструкция для работы в жестких производственных условиях
Детекторы
Конструкция светочувствительных детекторов CMOS специально приспособлена для требований эмиссионной спектрометрии. Они отличаются большой светочувствительной поверхностью, которая в 100 раз больше, чем в сопоставимых системах. 
  • В VeOS применяются высококачественные эксклюзивные твердотельные детекторы, разработанные специально для эмиссионной спектроскопии
  • Усовершенствована чувствительность сенсоров: 
  • большая площадь пиксела: узкие и высокие пикселы (для повышения разрешения и чувствительности) 
  • отсутствие органических покрытий для повышения чувствительности в УФ- диапазоне (как результат- долговременная стабильность)
  • Истинная технология компенсации шума CDS (двойное сэмплирование)
  • Улучшена чувствительность в УФ-области без органического покрытия
  • Избирательная чувствительность для каждого сенсора
  • 16 битное АЦП преобразование для измерения в большом динамическом диапазоне
  • Быстрое считывание за 2 мс
  • Отсутствие блюмингового эффекта (эффекта «распускания») благодаря специальной конструкции транзистора
  • Охлаждение детекторов для уменьшения темнового шума и улучшения стабильности сигнала
  • Технология объединения сигналов с пикселов для повышения аналогового сигнала (только для CMOS)
Необслуживаемый цифровой генератор GDSIII
  • Обеспечивает высочайшую степень воспроизводимости по всем параметрам возбуждения
  • Улучшает точность и пределы обнаружения концентраций элементов
  • Снижает межэлементные влияния и влияние фона
  • Параметры возбуждения оптимизированы
  • Программируемая частота разряда 1 Гц- 1 кГц
Искровой штатив
  • Конструкция штатива позволяет получать оптимальный световой поток для элементов, возбужденных в различных областях плазмы, что крайне важно для определения следовых концентраций 
  • Оптимальный участок плазмы искры
  • Запатентованная импульсная продувка аргоном
  • Термостабилизация штатива
  • Простой доступ для обслуживания
Считывающая и обрабатывающая электроника полностью помещены в термостабилизированную вакуумную камеру. 

Программное обеспечение OBLF VeOS


Базируется на концепции OBLF, сочетающей использование микропроцессоров для контроля работы отдельных устройств спектрометра и регистрации аналитических сигналов, с центральным управляющим ПК и аналитическим программным обеспечением на базе платформы Windows™. Управляется с помощью системы меню, оптимизировано для быстрой работы. Экранный интерфейс оператора на русском языке. 

Возможности программного обеспечения OBLF VeOS

  • Обработка данных спектра 
  • различные режимы сглаживания формы кривой спектральных линий (FFT, spline, Savitzky-Golay) 
  • «вычитание» фона для каждой линии 
  • постоянная проверка профиля линии 
  • использование нескольких линий сравнения 
  • «Анализатор спектра» (позволяет увидеть на экране весь спектр, параметры канала) 
  • Технологии компенсации фона
  • Расчет интенсивностей канала (n-Pixel-Integral, Gauss area, Peakheight)
  • Виртуальная выходная щель шириной 3 - 100 pm
  • Линейная интерполяция для «улучшения» спектрального разрешения
  • Контроль профиля
  • Контроль темнового тока
  • Автоматическое профилирование с помощью ПО

Характеристики OBLF VeOS

Параметр Значение
Оптическая схема Пашена-Рунге 500 мм
Плоская решётка 160 мм
Разрешение дифракционной решётки 2600 линий/мм
Обратная дисперсия для 1-го порядка 0,78 и ~4 нм/мм
Диапазон длин волн 130-680/780 нм
Частота искрового разряда 1 - 1000 Гц
Чистота аргона 99,998 %
Расход аргона на один прожиг в Fe-матрице макс. 2,4 л
Расход аргона во время ожидания капиллярный
Габариты прибора, Д х Ш х В

1150 х 740 х 1340 мм

Вес нетто 300 кг
Рекомендуем посмотреть

В наличии
X-MET 8000 - портативный анализатор металлов и сплавов
  • Бренд:Hitachi High-Tech Analytical Science GmbH
  • Гарантия:24 мес.
X-Met 8000 - анализ объектов любых форм и размеров: проволока, фольга, порошок, стружка,сварные швы. Возможность анализа металлов на любой основе, сложных высоколегированных сплавов.
Цена с НДС:
В наличии
Константа К5 - толщиномер защитных покрытий
  • Бренд:ЗАО "Константа"
  • Гарантия:36 мес.
Константа К5Ц толщиномер защитных покрытий всех типов с цветным дисплеем. 
Цена с НДС:
Поверка включена в стоимость
В наличии
А1212 MASTER - ультразвуковой дефектоскоп
  • Бренд:ООО "Акустические Контрольные Системы"
  • Гарантия:12 мес.
А1212 MASTER дефектоскоп предназначен для контроля сварных швов, поиск мест коррозии, трещин, внутренних расслоений и других дефектов.
Цена с НДС:
Поверка включена в стоимость
VULCAN - лазерный анализатор металлов
  • Бренд:Hitachi High-Tech Analytical Science GmbH
  • Гарантия:12 мес.
VULCAN самый быстрый анализатор металлов с помощью современных инструментов, доступных на рынке. Это также самый легкий и самый простой в использовании анализатор.
Цена с НДС: